Система рентгеновского неразрушающего контроля Nikon Metrology XT V 160

Предназначена для: 

- Проведение рентгеновского неразрушающего контроля

- Контроль пайки электронных компонентов, включая SMD-компоненты, ГИС, ИМС в корпусах BGA, µBGA, CSP, flip chip и QFP

- Контроль электронных компонентов (входной контроль)

- Контроль монтажа межсоединений в чипе

- Контроль установки кристаллов

- Контроль провисания проводников внутри ИМС

- Рентгеноскопия иных объектов для определения визуально скрытых дефектов

XT V 160 имеет отличное разрешение при высоком увеличении. В ней используется открытая рентгеновская трубка NanoTechTM с оптимальным разрешением - 500 нм, при этом ее максимальное геометрическое увеличение достигает 2 400Х (системное – до 36 000Х). Опция компьютерной томографии 3D-CT позволяет получать объемную модель исследуемого образца и значительно расширяет возможности анализа при исследовании образцов повышенной сложности. Также с ее помощью реализуется анализ томографических срезов исследуемого образца.

Отличительная возможность сиситемы XT V 160 - возможность работы с различными типами детекторов, в том числе с Flat Panel (FPD). Подобная конструкция позволяет в несколько раз повысить скорость получения компьютерной томографии по сравнению с детекторами типа Image Intensifier. Сочетание данных характеристик уникально и позволяет потребителям достигать сверхчеткого и бесшумного изображения.

Манипулирование исследуемым объектом выполняется с помощью моторизованного привода, позволяющего выполнять перемещение по осям X, Y, Z. Исследование образца под углом реализуется за счет программируемого наклона детектора и поворота рабочего стола. Такое исполнение манипулятора (5-ти осевой манипулятор) позволяет сохранять на неизменном уровне увеличение исследуемого образца даже при крайних положениях детектора.

Технопарк Яблочков, 2017